接上篇IEEE1513溫度循環(huán)試驗(yàn)與濕冷凍試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)（一）
步驟：
兩個(gè)模組將會(huì)進(jìn)行-40℃和60℃之間的200個(gè)循環(huán)溫度循環(huán)或是-40℃和90℃之間的50個(gè)循環(huán)溫度循環(huán)，依據(jù)ASTM E1171-99的規(guī)范指示。
備注：
ASTM E1171-01：在迴圈溫度和濕度環(huán)境下光電模數(shù)的試驗(yàn)方法
相對(duì)濕度并不需要加以控制。
溫變率不應(yīng)超過(guò)100℃/小時(shí)。
駐留時(shí)間至少10分鐘內(nèi)并且高低溫需在±5℃要求內(nèi)
要求：
a.模組在循環(huán)試驗(yàn)后，將檢視是否有任何明顯的損害或退化的現(xiàn)象。
b.模塊不應(yīng)該出現(xiàn)出任何裂縫或翹曲，密封材料也不得脫層。
c.假如有選擇電氣性功能測(cè)試，在許多原始基本參數(shù)相同的條件下，輸出功率應(yīng)達(dá)90%或更多
補(bǔ)充：
IEEE1513-4.1.1模組代表或接收端測(cè)試樣本，如果一個(gè)完整的模組或接收端的尺寸過(guò)大，無(wú)法納入現(xiàn)有的環(huán)境試驗(yàn)箱，模組代表或接收端測(cè)試樣本可以代替全尺寸的模組或接收器。
這些測(cè)試樣品應(yīng)特別組裝替代接收器，就像包含一串電池(Cell)連接在全尺寸的接收器上，電池串應(yīng)該要長(zhǎng)至少包括兩個(gè)旁路二極體，但在任何情況下三個(gè)電池(Cell)是比較少的，這概括包含連結(jié)與替代接收器終端應(yīng)該和全模組是一樣的。
替代接收器應(yīng)包括其他模組具代表性的組件，包括鏡頭/鏡頭罩，接收器/接收器外罩，后段/后段鏡頭，箱子和接收器接頭，將測(cè)試A、B、和C程序。
兩個(gè)全尺寸的模塊應(yīng)該用于室外暴露試驗(yàn)程序D.
IEEE1513-5.8 Humidity freeze cycle test 濕冷凍試驗(yàn)
接收器
目的：
要確定接收部分是否足夠抵抗腐蝕傷害和水氣膨脹擴(kuò)大材料分子的能力。此外，結(jié)冰水氣為測(cè)定故障原因的應(yīng)力
程序：
溫度循環(huán)后的樣品依據(jù)表3進(jìn)行試驗(yàn)，將受到溫度85 ℃和-40 ℃、濕度85%、20個(gè)週期的濕冷凍試驗(yàn)，依據(jù)ASTM E1171-99的資料顯示，體積較大的接收端則參考4.1.1
要求：
接收部分應(yīng)滿足5.7的要求。在2～4小時(shí)內(nèi)移出環(huán)境箱，接收部分應(yīng)可滿足高壓絕緣漏電試驗(yàn)的要求(見(jiàn)5.4)。
模組
目的：
要確定模組是否有足夠能力去抵制有害的腐蝕或材料接合差異性擴(kuò)大
程序：兩個(gè)模塊將受到濕冷凍試驗(yàn)20個(gè)循環(huán)，按照規(guī)范ASTM E1171-99如圖需進(jìn)行 4或10個(gè)循環(huán)至85 ℃。
請(qǐng)注意，最高溫度60 ℃低于接收端濕冷凍試驗(yàn)測(cè)試部分。
一個(gè)完整的高壓絕緣測(cè)試(見(jiàn)5.4)將進(jìn)行兩到四個(gè)小時(shí)循環(huán)之后完成。繼高壓絕緣測(cè)試，將進(jìn)行如5.2中所述的電氣性能測(cè)試。在大模模組也許可完成，見(jiàn)4.1.1 。
要求：
a.模組將檢查測(cè)試后是否有任何明顯的損害或退化的現(xiàn)象，有則紀(jì)錄起來(lái)。
b.該模組應(yīng)該表現(xiàn)出無(wú)裂縫、翹曲、或嚴(yán)重腐蝕。不應(yīng)有任何密封材料分層。
c.該模組應(yīng)通過(guò)如IEEE1513-5.4所描述的高壓絕緣測(cè)試。
假如有選擇電氣性功能測(cè)試，在許多原始基本參數(shù)相同的條件下，輸出功率因達(dá)90%或更多
IEEE1513-5.10 Damp heat test 濕熱試驗(yàn)
目的：判斷接收端抵擋長(zhǎng)期濕氣滲透的影響與能力。
程序：測(cè)試接收器依據(jù)ASTM E1171-99所描述的在相對(duì)濕度85%±5%，溫度85℃±2℃條件的環(huán)境試驗(yàn)箱中，這項(xiàng)測(cè)試應(yīng)在1000小時(shí)完成，但可以繼續(xù)增加額外60小時(shí)執(zhí)行高壓絕緣漏電試驗(yàn)。接收端部分可用于測(cè)試。
要求：這接收端需離開(kāi)濕熱試驗(yàn)箱2～4小時(shí)通過(guò)高壓絕緣漏電試驗(yàn)(見(jiàn)5.4)及通過(guò)目視檢查(見(jiàn)5.1)。 假如有選擇電氣性功能測(cè)試，在許多原始基本參數(shù)相同的條件下，輸出功率應(yīng)達(dá)90%或更多。
IEEE1513模組測(cè)試及目視檢查步驟(Module test and inspection procedures)
IEEE1513-5.1目視檢查(Visual inspection procedure)
目的：建立當(dāng)前的目視狀態(tài)，以便接收端可以比較他們是否通過(guò)每個(gè)測(cè)試，并保證滿足他們進(jìn)行進(jìn)一步檢測(cè)的要求。
IEEE1513-5.2電氣特能測(cè)試(Electrical performance test)
目的：描述測(cè)試模組和接收端的電氣特能并且判定其峰值輸出功率。
IEEE1513-5.3接地連續(xù)性測(cè)試(Ground continuity test)
目的：為了驗(yàn)證所有外露導(dǎo)電部件和接地模組之間的電氣連續(xù)性。
IEEE1513-5.4電氣絕緣測(cè)試(Electrical isolation test [dry hi-po])
目的：為了確保電路模組和任何外部接觸導(dǎo)電部分之間的電氣絕緣是足夠的，以防止腐蝕和保障工作人員的安全。
IEEE1513-5.5溼隔離電阻測(cè)試(Wet insulation resistance test)
目的：要驗(yàn)證濕氣無(wú)法滲透接收端的電子活性部分，在那裡可能造成腐蝕、接地故障，或找出人員安全的危險(xiǎn)隱患。
IEEE1513-5.6潑水測(cè)試(Water spray test)
目的：外地濕阻試驗(yàn)(FWRT)根據(jù)濕度運(yùn)行條件評(píng)估太陽(yáng)能電池模組的的電氣絕緣。本試驗(yàn)?zāi)M大雨或露水對(duì)其配置與配線，驗(yàn)證水分不會(huì)進(jìn)入所使用的陣列電路中，它可以增加腐蝕性，造成接地故障，和發(fā)生人員或設(shè)備電氣安全危險(xiǎn)。
IEEE1513-5.7熱循環(huán)測(cè)試(Thermal cycle test)
目的：判斷接收端是否能夠適當(dāng)承受零件與接合材料，因熱膨脹差所造成的故障原因。
IEEE1513-5.8濕度冷凍循環(huán)測(cè)試(Humidity freeze cycle test)
目的：要確定接收部分是否足夠抵抗腐蝕傷害和水氣膨脹擴(kuò)大材料分子的能力。此外，結(jié)冰水氣為測(cè)定故障原因的應(yīng)力。
IEEE1513-5.9連接端穩(wěn)定測(cè)試(Robustness of terminations test)
目的：為了確保線材和連接器，施加外力在每一個(gè)部分，以確認(rèn)夠堅(jiān)固維持正常處理步驟。
IEEE1513-5.10濕熱測(cè)試(Damp heat test)
目的：判斷接收端抵擋長(zhǎng)期濕氣滲透的影響與能力。 I
EEE1513-5.11冰雹沖擊測(cè)試(Hail impact test)
目的：判斷任一個(gè)組件，特別是聚光鏡，在冰雹下能夠存活。 IE
EE1513-5.12旁路二極體熱測(cè)試(Bypass diode thermal test)
目的：評(píng)估是否有足夠的散熱設(shè)計(jì)和使用相對(duì)長(zhǎng)期可靠度的旁路二極體，去限制模組熱班擴(kuò)散不良的影響。
IEEE1513-5.13熱點(diǎn)耐受測(cè)試(Hot-spot endurance test)
目的：評(píng)估模組長(zhǎng)期忍受週期性熱班升溫影響能力，常見(jiàn)相關(guān)聯(lián)故障情形，如：嚴(yán)重破裂或不匹配的電池晶片、單點(diǎn)開(kāi)路故障、或非均勻陰影(陰影部分)。 I
EEE1513-5.14戶外曝曬測(cè)試(Outdoor exposure test)
目的：為了初步評(píng)估模組能力，禁得起暴露在戶外的環(huán)境(包括紫外線照射)，透過(guò)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試顯露產(chǎn)品可能沒(méi)有被發(fā)現(xiàn)的效用降低。
IEEE1513-5.15光束偏移損害測(cè)試(Off-axis beam damage test)
目的：為了確保任何一部分模組因模組偏移聚光太陽(yáng)輻射光束而被破壞。
